技術(shù)文章
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技術(shù)文章
11-24
氣相色譜程序升溫時(shí)基流增加(漂移大),噪聲增加原因分析如下:1、色譜柱需重新老化或失效;2、新?lián)Q載氣純度欠佳;3、過濾器失效;4、樣品前處理不當(dāng),如:雜質(zhì)干擾物太多;5、靈敏度太高。6、數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)設(shè)置不合理。相關(guān)產(chǎn)品信息:氣相色譜分析儀,變壓器油色譜分析儀,天然氣分析儀,氣相色譜儀價(jià)格
查看更多11-22
出峰后基線下移的主要原因分析如下:1、樣品量大,特別是溶劑改變了工作狀態(tài);2、FID被污染狀況發(fā)生改變,或氣流比發(fā)生變化;3、系統(tǒng)出現(xiàn)漏氣,或出現(xiàn)堵塞;4、色譜柱被污染;5、樣品處理不當(dāng),如:樣品中有些物質(zhì)和固定相發(fā)生作用。
查看更多11-21
1、氣相色譜柱安裝不合格,樣品不能以“塞子”形進(jìn)入色譜柱,柱與檢測(cè)器安裝的死體積太大;2、樣品未能注射入柱頭中(柱頭進(jìn)樣方式);3、汽化管沒有安裝好或破損,樣品只能脫尾進(jìn)入色譜柱;4、化室的溫度低或偏高;5、載氣流量偏低;6、進(jìn)樣量大;7、載氣系統(tǒng)(如注射墊處)有漏氣;8、進(jìn)樣器(汽化室),被樣品中高沸點(diǎn)雜質(zhì)或注射墊殘?jiān)廴荆?、色譜柱被污染至使被分析組分和高沸點(diǎn)污染物作用;10、補(bǔ)充氣未開或偏低;11、色譜柱溫度偏低或失效;12、甲烷化Ni催化劑失效;13、進(jìn)樣技術(shù)差(如速...
查看更多11-18
一、"N"或“W”峰出現(xiàn)的原因1、TCD操作,用N2作載氣由于熱傳導(dǎo)率非線性引起;2、FID操作時(shí),樣品溶劑電離效率低(如CS2),或氣流比欠佳時(shí);3、ECD操作時(shí),由于檢測(cè)器被污染,溶劑峰或待測(cè)組分含量較高,或脈沖電源有毛病。二、舌頭峰(前延峰)出現(xiàn)的原因1、汽化溫度偏低;2、載氣流量?。?、進(jìn)樣量大,汽化時(shí)間長;4、汽化室被污染,樣品有吸附效應(yīng);5、樣品在柱頭有冷凝或色譜柱被污染;6、進(jìn)樣技術(shù)差(揮發(fā)性組分的進(jìn)樣速度太慢);7、峰前出現(xiàn)了“鬼”峰。
查看更多11-16
一、臺(tái)階峰1、TCD熱絲被樣品中所含鹵素、氧、硫等元素腐蝕;2、氣體流量突變?nèi)纾鹤⑸鋲|突然漏氣,氣路受阻等;3、記錄色譜峰裝置故障如:拉線松。二、負(fù)峰1、TCD用氮做載氣,由于待測(cè)組分在N2中濃度不同,熱傳導(dǎo)值呈現(xiàn)非線性而可能出現(xiàn)負(fù)峰,有時(shí)可以通過改變載氣流量或進(jìn)樣量克服;2、操作ECD時(shí)進(jìn)樣量過大而出負(fù)峰,這是由于工作原理由電子捕獲轉(zhuǎn)變?yōu)殡婋x檢測(cè),此時(shí)靈敏度還會(huì)大大降低;3、操作FID,低電離效率的溶劑(如CS2)或雜質(zhì)出現(xiàn),使原基流較高的輸出基線減小而顯示為負(fù)峰;4、操作...
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